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Langer EMV

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依据IEC 62132-4的测试系统(DPI)集成电路电磁抗扰度测试系统 150kHz到1GHz

  • 集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。

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依据IEC62215的IC脉冲群抗扰度测试系统

  • 集成电路电磁兼容测试标准,主要有电磁发射测试标准IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试)、电磁抗扰度标准IEC 62132(用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试)以及脉冲抗扰度标准IEC 62215

关注度:1210供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-6的IC电磁发射测试系统-磁场探头法

  • IEC61967-6磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射。芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连,因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取,由电磁感应定律,探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。

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依据IEC 61967-2的IC电磁发射测试系统-TEM小室法

  • IEC61967-2 规定的TEM小室,其实就是一个变型的同轴线

关注度:1823供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-1的IC测试板

  • 依据IEC 61967-1 IC测试板,由接地平面、IC适配器、连接板等组成。 集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132以及IEC 62215。

关注度:696供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法

  • 集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967标准,用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。

关注度:881供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-3的测试系统-IC扫描仪

  • ICS103, FLS102, FLS103 德国LANGER公司开发和生产的三种型号高分辨率电磁兼容扫描仪,能在3线性轴(x,y,z)或者4轴( 3线性轴:x,y,z和α旋转)运动,分辨率高达5μm,特别适合于集成电路(IC)以及手机等手持终端的电磁干扰扫描。

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