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NEMP 核电磁脉冲模拟器

  • MIL-STD-461/GJB151 RS105是一个高达50KV/M的瞬态电磁脉冲测试法,一种纳秒级上升时间的双指数脉冲波形,施加于被测物EUT至少5次,EUT不可呈现出任何功能上的故障和降级。

关注度:343供应商:Montena

GJB 151A 151B传导敏感度测试系统

  • MIL STD 461F/GJB 151B传导敏感度CS106,CS115,CS116三合一干扰发生器,含配套的干扰注入探头/夹具/高压负载/高压衰减器以及用于波形监测用的示波器,整个系统可以通过软件控制来进行测试以及测试前的校准,且发生器可整合CS114测试于同一干扰口输出,大大简化测试步骤;另发生器为模块化发生器,可根据单个测试项目单独配置。

关注度:5849供应商:Montena

300kV ESD静电测试系统

  • 该测试系统适用于MIL-STD-331C、GJB 573A-1998、MIL-STD-464A 、GJB 1389-2005等标准中对静电测试的要求,可模拟直升机升降、加油机加油以及沉积静电等多种情形,以此考察被测设备的静电抗扰度性能。

关注度:7083供应商:Montena

依据IEC 62132-4的测试系统(DPI)集成电路电磁抗扰度测试系统 150kHz到1GHz

  • 集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。

关注度:1226供应商:Langer EMV

传导抗扰度测试系统 EN/IEC 61000-4-6

  • 我公司提供完整的EN/IEC 61000-4-6传导抗扰度解决方案,可根据用户不同的使用目的量身定制,提供不同的解决方案,配备齐全的测试附件,可随系统打包定制,也可单独配备,方便用户取舍和日后升级。

关注度:8064供应商:AR

辐射抗扰度测试系统 提供专家级技术服务

  • 在辐射抗扰度方面,我们有多年的系统集成经验,并有多个专家提供技术服务,应用领域覆盖民标、军标、汽车电子,可提供交钥匙工程服务

关注度:8125供应商:AR

多频辐射抗扰度测试系统MT06000 多个频点干扰信号

  • 可同时施加多个频点的干扰信号,当被测产品在测试过程中有功能问题时自动从出现问题频点开始逐点施加,完全满足IEC61000-4-3测试要求,并且大大节省了测试时间。

关注度:3439供应商:AR

AR 手持电磁场安全测量仪

  • 为了确保EMF环境的安全,就必须需要专业的测量设备来测量分析人类生活和工作环境当中的电磁场强度的大小,AR的SM400K和SM40G是业内目前最为先进的手持EMF测量分析仪,这两款测量仪不仅操作和携带方便而且有很宽的频带测量范围,不仅如此,该设备还可以记录测量环境下的温度且内置GPS定位,可后续在地图软件中显示GPS坐标,功能非常强大!

关注度:4099供应商:AR

EMF safety探头

  • AR的EMF探头分磁场测量探头和电场测量探头,频率覆盖5Hz-40GHz,搭配EMF safety测量仪可以实现不同环境下的测试

关注度:601供应商:AR

依据IEC62215的IC脉冲群抗扰度测试系统

  • 集成电路电磁兼容测试标准,主要有电磁发射测试标准IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试)、电磁抗扰度标准IEC 62132(用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试)以及脉冲抗扰度标准IEC 62215

关注度:701供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-6的IC电磁发射测试系统-磁场探头法

  • IEC61967-6磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射。芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连,因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取,由电磁感应定律,探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。

关注度:570供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-2的IC电磁发射测试系统-TEM小室法

  • IEC61967-2 规定的TEM小室,其实就是一个变型的同轴线

关注度:636供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-1的IC测试板

  • 依据IEC 61967-1 IC测试板,由接地平面、IC适配器、连接板等组成。 集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132以及IEC 62215。

关注度:372供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法

  • 集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967标准,用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。

关注度:516供应商:Langer EMV

依据IEC 61967-3的测试系统-IC扫描仪

  • ICS103, FLS102, FLS103 德国LANGER公司开发和生产的三种型号高分辨率电磁兼容扫描仪,能在3线性轴(x,y,z)或者4轴( 3线性轴:x,y,z和α旋转)运动,分辨率高达5μm,特别适合于集成电路(IC)以及手机等手持终端的电磁干扰扫描。

关注度:468供应商:Langer EMV
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