红外热像仪&红外探测仪在电子电路应用案例

发 布:2011/9/1 11:16:21查 看:2723

1.缺陷探测
PCBA上的电路问题查找起来非常困难,技术可能告知电路问题的存在,但无法确定缺陷的位置。工程师需要花费很多时间来寻找问题点的位置,对于层间问题更难发现。
采用NEC红外热像仪,可有效探测出电路板上的缺陷位置。

2.元器件的筛选
可采用NEC红外热像仪对电子元器件进行筛选。确保次品和杂质的混入,回收不合格产品。

3.在线监测
采用NEC红外热像仪进行在线监测缺陷,一些电路板上非正常工作器件会表现出异常的热效应,能够被热成像检测系统尽早发现,避免流入客户工厂。

4.优化设计
 由于电子器件的密度和功率密度的增加,在设计阶段和开始生产就应解决热管理问题,减少故障排除和维修的相关费用。此外,通过制定电路板和电子元件的热效应历史数据库,设计人员可以更早地把电路板和元器件的热性能考虑到在设计过程中。NEC红外热像仪可有效加入电路设计阶段,提供设计人员所需的数据,最终实现设计的优化。
     

LCD表面温度分布

   

笔记本电脑表面温度分布

 

 

集成电路板表面温度分布

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