视频 > 无损检测技术 > 视频:NDT-RAM跌落测试系统
简介:

NDT-RAM跌落测试系统可用于微型部件的质量控制测试,如轴承的滚珠,微型医用部件,微型电子接头等。速度----最快可达每秒一件。

 

标签:NDT-RAM跌落测试
发布时间:2011-5-31 14:22:11
来源:嘉兆科技
播放:13682次
所属:Vibrant
视频内容

NDT-RAM跌落测试系统可用于微型部件的质量控制测试,如轴承的滚珠,微型医用部件,微型电子接头等。速度----最快可达每秒一件;通用性----一套系统可适用于多种产品测试;操作简单----测试前无需任何准备工作;客观性----没有任何人为干预。测试结果Pass或Fail完全由系统测试并计算完成,基于这个结果,由PLC控制电机自动完成分类。
- NDT-RAM跌落测试系统工作视频
- NDT-RAM跌落测试系统由漏斗状夹具或振动台来输送待测件,配置高精度力传感器、麦克风和智能控制器。系统坚固耐用,适合恶劣的生产环境。跌落测试过程中,每个待测件都处于自由边界条件下,该边界条件不会给测试结果带来任何阻尼影响,大大提高了测试精度。
- 对粉末冶金、金属注射成型件、铸件(包括球墨铸铁件)、锻件、冲压件的生产企业和客户来说,NDT-RAM系统是非常优秀的质量控制工具,该系统大大降低了企业的检测成本(包括材料成本和人工成本),减少了现有检测手段引起的误检而造成的产品报废,最重要的是这项技术可以极大地改善企业的产品质量。

 

关于嘉兆
嘉兆简介
荣誉证书
加入团队
荣誉客户
联系我们
我们的品牌
客户服务
在线客服
客户留言
目录索取
设备维修
维修.校准.升级
专业培训
系统服务
设备保养
嘉兆动态
新闻中心
展会活动
基础知识库
其他服务
商城
软件无线电
友情链接
关注我们
版权信息
嘉兆科技(CORAD)所发布展示的“产品信息”,“解决方案”版权归嘉兆科技所有,嘉兆科技拥有其代理权。任何收集本站产品信息并未经嘉兆科技许可,嘉兆科技将保留追究侵权者法律责任的权利。

粤ICP备 06126740号 嘉兆网 © Corad Technology Ltd. 始创于1980年

在线客服